Tiivistelmä
SIL (Safety Integrity Level) on laitteen tai järjestelmän turvallisuuden mittaamiseen määritelty käytäntö. Jotta jokin laite tai järjestelmä saisi jonkin SIL-luokituksen, on sen läpäistävä IEC 61508 standardin mukaisesti sekä järjestelmä- ja laitteistotestit. Testeissä lasketaan laitteiston ja järjestelmän todennäköisyys vikaantumiselle, eli tehdään vikaantumislaskenta.
Historiaa ja taustatietoja miksi näihin tapoihin on päädytty
Vuonna 1996 ISA (Instrument Society of America) sääti standardit luokittelemaan turvajärjestelmiä Yhdysvaltojen prosessiteollisuudessa monien työtapaturmien johdosta. Tästä syntyi standardi ISA S84.01, jonka Safety Integrity Levels (SIL) esitteli. Tämän jälkeen International Electrotechnical Commission (IEC) sääti teollisuusriippumattoman standardin, IEC 61508, joka auttoi määrittelemään turvallisuutta ohjelmoitavissa elektronisissa turvallisuus-järjestelmissä. Näiden standardien kombinaatio on ajanut teollisuuden tavoittelemaan instrumentoinneissa ratkaisuja, jotka parantavat luontaista turvallisuutta teollisuuden prosesseissa. Sivutuotteena huomattiin, että optimoituna SIL:lin keskeiset parametrit paransivat luotettavuutta sekä käytettävyysaikaa kyseisille prosesseille.
Lyhenteet
- T1 = Proof test interval (h)
- MTTR = Mean time to restoration (hour)
- MRT = Mean repair time (hour)
- DC = Diagnostic coverage
- β = The fraction of undetected failures that have a common cause
- βD = Of those failures that are detected by the diagnostic tests, the fraction that have a common cause
- βDU = Dangerous Failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
- PFDG = Average probability of failure on demand for the group of voted Channels
- PFDS = Average probability of failure on demand for the sensor subsystem
- PFDL = Average probability of failure on demand for the logic subsystem
- PFDFE = Average probability of failure on demand for the final element subsystem
- PFDSYS = Average probability of failure on demand of a safety function for the E/E/PE safety-related system
- PFHG = Probability of failure per hour for the group of voted channels
- PFHS = Probability of failure per hour for the sensor subsystem
- PFHL = Probability of failure per hour for the logic subsystem
- PFHFE = Probability of failure per hour for the final element subsystem
- PFHSYS = Probability of failure per hour of a safety function for the E/E/PE safety-related system
- λ = Total Failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
- λD = Dangerous failure rate (per hour) of a channel in a subsystem, equal to 0,5 λ
- λDD = Detected dangerous failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
- λDU = Undetected dangerous failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
- λSD = Detected safe failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
- tCE = Channel equivalent mean down time (hour)
- tGE = Voted group equivalent mean down time (hour)
- tCE’ = Channel equivalent mean down time (hour)
- tGE’ = Voted group equivalent mean down time (hour)
- T2 = Interval between demands (h)
- K = Fraction of the success of the auto test circuit in the 1oo2D system
- PTC = Proof Test Coverage
- 1 = High demand or continuous mode only
- 2 = Low demand mode only
SIL-käyttö eri turvallisuusmäärittelyissä
SIL-tason määritteleminen ~sivu 2
Vikaantumislaskenta (PFD calculation) ~sivu 3,4,5,6,7
Vikaantumislaskennan kaavoja ja esimerkkejä ~sivu 3,4,5,6,7
1oo1 -arkkitehtuuri
Channel equivalent mean down time (hour)
1oo2 -arkkitehtuuri
Voted group equivalent mean down time (hour)
Average probability of failure on demand for the group of voted Channels
2oo2 -arkkitehtuuri
Average probability of failure on demand for the group of voted Channels
1oo2D -arkkitehtuuri
Channel equivalent mean down time (hour)
Voted group equivalent mean down time (hour)
Average probability of failure on demand for the group of voted Channels
2oo3 -arkkitehtuuri
Average probability of failure on demand for the group of voted Channels
RRF (Risk Reduction Factor) ~sivu 3,4,5,6,7
RRF kaavoja ja esimerkkejä ~sivu 3,4,5,6,7
Riskigraafi s. 36
IEC 61508 ~sivu 8
Hyödyt ja haitat ~sivu 9,10
Linkkejä
https://www.automation.siemens.com/mdm/default.aspx?Language=en&GuiLanguage=en&DocVersionID=14539628939&TopicID=11433678091&Highlight=SIL%2520calculation&ShowMsg=false&Query=SIL%2520calculation
http://www.iceweb.com.au/sis/Hima/HIMA%20-%20Comparison%20of%20PFD%20Calculation.pdf
http://koti.mbnet.fi/asaf/IEClaskenta.pdf
https://www.jlab.org/accel/ssg/safety/Functional%20Safety%20and%20SIL.pdf
https://noppa.aalto.fi/noppa/kurssi/ke-107.4700/luennot/KE-107_4700_prosessien_riskit.pdf
http://en.wikipedia.org/wiki/Safety_Integrity_Level
http://www.documentation.emersonprocess.com/groups/public_valvesprodlit/documents/training_info/sis_training_course_1.pdf
http://www.mtl-inst.com/images/uploads/datasheets/App_Notes/AN9030.pdf