Tiivistelmä

SIL (Safety Integrity Level) on laitteen tai järjestelmän turvallisuuden mittaamiseen määritelty käytäntö. Jotta jokin laite tai järjestelmä saisi jonkin SIL-luokituksen, on sen läpäistävä IEC 61508 standardin mukaisesti sekä järjestelmä- ja laitteistotestit. Testeissä lasketaan laitteiston ja järjestelmän todennäköisyys vikaantumiselle, eli tehdään vikaantumislaskenta.

Historiaa ja taustatietoja miksi näihin tapoihin on päädytty

Vuonna 1996 ISA (Instrument Society of America) sääti standardit luokittelemaan turvajärjestelmiä Yhdysvaltojen prosessiteollisuudessa monien työtapaturmien johdosta. Tästä syntyi standardi ISA S84.01, jonka Safety Integrity Levels (SIL) esitteli. Tämän jälkeen International Electrotechnical Commission (IEC) sääti teollisuusriippumattoman standardin, IEC 61508, joka auttoi määrittelemään turvallisuutta ohjelmoitavissa elektronisissa turvallisuus-järjestelmissä. Näiden standardien kombinaatio on ajanut teollisuuden tavoittelemaan instrumentoinneissa ratkaisuja, jotka parantavat luontaista turvallisuutta teollisuuden prosesseissa. Sivutuotteena huomattiin, että optimoituna SIL:lin keskeiset parametrit paransivat luotettavuutta sekä käytettävyysaikaa kyseisille prosesseille.

Lyhenteet

T₁ = Proof test interval (h)
MTTR = Mean time to restoration (hour)
MRT = Mean repair time (hour)
DC = Diagnostic coverage
β = The fraction of undetected failures that have a common cause
β_D = Of those failures that are detected by the diagnostic tests, the fraction that have a common cause
β_DU = Dangerous Failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
PFD_G = Average probability of failure on demand for the group of voted Channels
PFD_S = Average probability of failure on demand for the sensor subsystem
PFD_L = Average probability of failure on demand for the logic subsystem
PFD_FE = Average probability of failure on demand for the final element subsystem
PFD_SYS = Average probability of failure on demand of a safety function for the E/E/PE safety-related system
PFH_G = Probability of failure per hour for the group of voted channels
PFH_S = Probability of failure per hour for the sensor subsystem
PFH_L= Probability of failure per hour for the logic subsystem
PFH_FE = Probability of failure per hour for the final element subsystem
PFH_SYS = Probability of failure per hour of a safety function for the E/E/PE safety-related system
λ = Total Failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
λ_D = Dangerous failure rate (per hour) of a channel in a subsystem, equal to 0,5 λ
λ_DD = Detected dangerous failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
λ_DU = Undetected dangerous failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
λ_SD = Detected safe failure rate (per hour) of a channel in a subsystem
t_CE = Channel equivalent mean down time (hour)
t_GE = Voted group equivalent mean down time (hour)
t_CE’ = Channel equivalent mean down time (hour)
t_GE’ = Voted group equivalent mean down time (hour)
T₂ = Interval between demands (h)
K = Fraction of the success of the auto test circuit in the 1oo2D system
PTC = Proof Test Coverage
1 = High demand or continuous mode only
2 = Low demand mode only