...
- "Osa 1: Yleiset vaatimukset"
- "Osa 2: Vaatimukset sähköisille/elektronisille/ohjelmoitaville elektronisille turvallisuuteen liittyville järjestelmille"
- "Osa 3: Ohjelmistovaatimukset"
- "Osa 4: Määritelmät ja lyhenteet"
- "Osa 5: Esimerkkejä menetelmistä turvallisuuden eheyden tasojen määrittämiseksi"
Diagnostinen kattavuus / Diagnostic coverage (DC)
suhde, joka kuvaa diagnostisen testin löytämiä virheitä todellisten virheiden lukumäärään.
Käyttöönottotesti / Site acceptance test (SAT)
Tehdään silloin, kun laitteisto on asennettu kohteeseen ja aletaan kokeilemaan eri osien toimivuutta oikeassa ympäristössä.
MooN-arkkitehtuuri
turva-arkkitehtuuri, jossa N tarkoittaa yksittäisiä kanavia, jotka ovat kytketty siten, että tarvittavan turvatoimen tekemiseen tarvitaan M:n verran kanavia.
Tehdastestaus / Factory acceptance test (FAT)
Ohjelmiston testaus laitevalmistajan tiloissa, ennen laitteiston toimittamista.
Ohjelmoitava elektroniikka (OE) / Programmable electronics (PE)
Elektroninen komponentti tai laite, joka kuuluu osana OEJ:hin.
Ohjelmoitava elektroninen järjestelmä (OEJ) / Programmable electronic system (PES)
Järjestelmä, joka on tarkoitettu seurantaan, ohjaukseen tai suojaukseen. Järjestelmä koostuu yhdestä tai useammasta OE:stä ja se käsittää kaikki järjestelmän tarvitsevat osta (kommunikointi, virta, toimilaitteet, tulo-ja lähtösignaalit).
Perusohjaus- ja säätöjärjestelmät / Basic process control system (BPCS)
Järjestelmä joka ohjaa prosessia prosessista ja/tai valvomosta tulleisiin signaaleihin ja laskentakaavoihin perustuen. Ei kuitenkaan ohjaa kuin enintään TET1-tason järjestelmiä.
Toiminnallinen turvallisuus / Functional safety
Järjestelmien ja laitteiden oikeaa ja oikea-aikaista toimintaa.
Turva-automaatiojärjestelmä (TAJ) / Safety Instrumented System (SIS)
...
Jollekkin järjestelmälle on laskettu useita erilaisia TET-tasoja eri kaavoihin perustuen, jonka jälkeen koko järjestelmän TET-taso määräytyy alimman yksittäisen TET-tason mukaan.
Turvallisuuden eheyden taso (TET) / Safety integrity level (SIL)
...
| TET-taso | Riskin pienennys kerroin (RRF) | Vikaantumisen todennäköisyys tunnissa (PFH) |
|---|---|---|
| Taso 1 | 10 ... 100 | ≥ 10−5 ... < 10−6 |
| Taso 2 | 100 ... 1000 | ≥ 10−6 ... < 10−7 |
| Taso 3 | 1000 ... 10000 | ≥ 10−7 ... < 10−8 |
| Taso 4 | >10000 | ≥ 10−8 ... < 10−9 |
Ulkoisten riskien vähentämis laitteisto / external risk reducing facilities
Tarkoittaa laitteistoa, jonka tarkoituksena on vähentää riskejä, jotka eivät kuulu TET:n piiriin.
Vaarallisen vikaantumisen todennäköisyys / Safe failure fraction (SFF)
...
λDU = vaarallinen havaitsematon vikaantumisaste
Valmiudet systemaattisen vian estämiseen / Capability to prevent systematic failures (CAP)
Laitteen valmistajan todistus, jossa määritellään satunnaisen ja systemaattisen vian estämiseen perustuva TET-luokitus.
Viansietokyky / Hardware fault tolerance (AC)
...
| SFF | Viansietokyky | ||
|---|---|---|---|
| 0 | 1 | 2 | |
| < 60% | ei sallittu | TET1 | TET2 |
| 60% - < 90% | TET1 | TET2 | TET3 |
| 90% - < 99% | TET2 | TET3 | TET4 |
| ≥ 99% | TET3 | TET4 | TET4 |
Vikaantumisen todennäköisyys tunnissa / Probability of failure per hour (PFH)
...
λ = vikaantumistaajuus (1/vuosi)
Linkkejä:
1. http://en.wikipedia.org/wiki/Safety_Integrity_Level
...