...
Elektronimikroskoopeilla päästään monimiljoonakertaisiin suurennoksiin ja erotuskyky on parhaimmillaan 0,07 nanometrin luokkaa. Laitteesta on tehty muutamia eri versioita.
Tampereen TEM, Tampereen teknillisen yliopiston materiaalia.
Läpäisyelektronimikroskoopissa (yllä) tutkittavan TEM, Transmission Electron Microscope) tutkittavan kohteen kuva muodostuu fluoresoivalle levylle, kun kohteen läpi ohjataan elektroneja magneettilinssien avulla. Läpäisyelektronimikroskooppikuvia käytetään pääasiallisesti pienten solujen tai kudos- sekä suurten solujen leikkeiden poikkileikkausrakenteiden selvittämiseen.
Pyyhkäisyelektronimikroskoopissa (SEM, Scanning Electron Microscope) kuva Pyyhkäisyelektronimikroskoopissa (alla) kuva muodostetaan näytölle elektroneista, jotka irtoavat tai heijastuvat näytteen pinnasta, kun sitä pyyhitään kapealla elektronisuihkulla. Näin saadaan hyvin yksityiskohtainen kuva näytteen pinnasta. Niinpä SEM:n tyypillisiin käyttökohteisiin kuuluvatkin mm. pinnoitustarkastukset, murtumien syiden selvitykset, pintojen mikrobitartuntojen tai ruostevaurioiden tarkastaminen.
SEM, Tampereen Tampereen teknillisen yliopiston materiaalia.
...
Alussa sivuttiin tunnelointi- ja atomivoimamikroskopiaa. Nyt hieman tietoa niistä.